透過型電子顕微鏡

【読み方】
とうかがたでんしけんびきょう
【英語名】
Transmission Electron Microscope(TEM)

説明

サンプルに電子線をあて、透過した電子線の強度から観察対象内の電子透過率の空間分布を観察する電子顕微鏡

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