垂直走査型白色干渉測定

【読み方】
すいちょくしきそうさがたはくしょくかんしょうそくてい
【英語名】
Vertical scanning white light interferometry

説明

光源に白色光を使用し、発生した干渉縞の強度分布を解析することで焦点高さを測定する装置。1nm程度の高さ分解能がある

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