当社は2024年12月11日（水）から開催されます「SEMICON JAPAN 2024」に出展します。

本展示会では、High NA対応アクティニックEUVパターンマスク欠陥検査装置「ACTIS　A300」および新製品を含めたEUVリソグラフィ全般の幅広い製品ラインナップ、主力のマスク、マスクブランクス欠陥検査装置、ウェハ関連検査装置をご紹介いたします。 またハイブリッドレーザー顕微鏡の実機展示を行い、R&D（標準機）から量産試作（特殊ステージ仕様）、量産ライン（プロセス機）まで、測定ニーズに合わせた顕微鏡のカスタムをご提案いたします。

あらゆる検査・計測に関するご相談も承っておりますので、ぜひ当社ブースにお立ち寄りください。 来場登録は公式サイトから受け付けております。来場者バッジの事前に発行し、ご来場いただきますようよろしくお願い申し上げます。皆さまのお越しを心よりお待ちしております。

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