当社は2022年1月19日から東京ビッグサイトで開催されるネプコン ジャパンに出展いたします。

レーザーテックブースでは、コンフォーカル光学系をベースに微分干渉観察、垂直式白色干渉測定など6つの機能を搭載し、複数の装置を揃えなければ実現できなかった観察、測定を1台で可能にしたハイブリッドレーザー顕微鏡「OPTELICS HYBRID+」のデモを行います。そのほか新製品コンフォーカル顕微鏡自動検査/レビュー装置「OPTELICS AI²」、SiCウェハ欠陥検査/レビュー装置「SICA88」やGaNウェハ欠陥検査/レビュー装置「GALOIS211」など化合物半導体向けの製品もご紹介いたします。

R&D（標準機）から量産試作（特殊ステージ仕様）、量産ライン（プロセス機）まで、測定ニーズに合わせた顕微鏡のカスタムをご提案し、その他検査、計測に関するご相談も承っておりますので、ぜひ当社ブースにお立ち寄りください。