新製品: マスクブランクス欠陥検査装置 MAGICSシリーズ「M8650/M8651」を発表
2017年04月03日
設計ルール7nm以降の最先端半導体フォトマスク用マスクブランクス欠陥検査装置
この度レーザーテックは、設計ルール10nm~7nm世代の最先端半導体用マスクブランクス欠陥検査装置で高感度・高スループット化に対応したMAGICSシリーズM8650/M8651(以下、M8650/51)を製品化いたしました。
説明
当社のマスクブランクス欠陥検査装置MAGICSシリーズは、長年にわたり高い評価と信頼をいただき、業界標準機としてマスクブランクス※1メーカーでの出荷検査およびマスクショップでの受け入れ検査やプロセス管理で活用されております。近年、最先端の微細化プロセスに対応するため、マスク技術においてもEUVや新構造マスクの適用など、さまざまな技術革新が行われております。これに伴い、マスクブランクス検査もさらなる高性能・高機能化が急務となっています。
当社は2014年4月に販売開始し好評頂いているM8350/51に対し、さらなるスループットの向上と高い感度を実現したM8650/51を開発いたしました。
M8650/51はMAGICSシリーズの基幹技術を用い、355nmレーザー光源を採用。M8350/51と比較して、ビーム本数を倍増、検査時間を1/2としました。さらに高密度スキャンを用いることで、M8350/51同等の検査時間で1.5倍の高感度を実現しました。また、本装置はM8350/51からフィールドアップグレードが可能です。すでに多くの引き合いをいただいており、複数台の受注が決定しております。
レーザーテックは、これからも次世代高品質マスクブランクスの出荷品質の向上およびマスクショップでのマスクブランクス受け入れ検査やマスク製造プロセス管理の改善に向けて貢献してまいります。
特長
- 次世代高品質マスクブランクス欠陥検査に有効な高検出感度と、量産工場での出荷・受入検査に適した高スループットを両立した最新鋭欠陥検査装置
- 既にマスクブランクス検査の業界標準機となっているMAGICSの基幹技術であるコンフォーカル光学系を採用した63本のマルチビームスキャン方式をベースに、微小欠陥に特化した欠陥検出回路を搭載
- サブストレート※2のみならず、最先端半導体用マスクブランクス各層における欠陥検出感度を飛躍的に向上させ、より高品質なブランクスの選別が可能
- カセットは、ブランクスメーカー向け多段カセットから、マスクショップ向けRSP、MRPおよびEUVL向けDual podまで対応が可能
- M8651は、ライン & スペースのモニターパターン検査に対応した製品で、マスクショップでの各種プロセス管理に有効
用途
- サブストレート、光マスクブランクス(Cr膜、MoSi膜、ハーフトーン膜)、EUVマスクブランクス(Mo/Si多層膜、吸収膜)の欠陥検査
- 欠陥レビュー
- ※1マスクブランクスとは、パターニングされる前のフォトマスク製造用の基板です。
- ※2サブストレートとは、マスクブランクスを作る前のガラス基板です。